弊社保有のエネルギー分散型蛍光 X 線分析装置は、高分解能シリコンドリフト検出器（SDD）と、低エネルギーX線の透過性に優れた UTW（Ultra‑Thin Window）を組み合わせた検出器が搭載されています。そのため、軽元素の検出感度が高く検出範囲は炭素（C）からウラン（U）までの元素を高感度で検出することができます。さらに、SDD の高いピーク分離能により、主成分（mass %）から微量不純物（wt ppm）レベルまでの定性・半定量分析が可能です。
これにより、異物の無機成分やガラス・金属などの材料評価 あるいは 環境負荷物質のスクリーニング検査などに対応しています。
試料サイズは5円玉（Φ5mm）程度の大きさがあれば測定は可能です。

一次X線を試料に照射すると構成元素に固有な蛍光X線が発生します。発生した蛍光X線のエネルギーを測定することによって、元素の定性分析を行い、X線の強度を測定することによって定量分析を行うのが蛍光X線分析法です。このうち、蛍光X線のエネルギーを高いエネルギー分解能をもつ検出器を用いて測定する装置をエネルギー分散型の蛍光X線分析装置といいます。